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上海儀電物光顯微熔點(diǎn)測定儀價(jià)格表

點(diǎn)擊: 次 時(shí)間:2016-04-05 17:35

產(chǎn)品型號

主要技術(shù)參數(shù)

市場價(jià)格(元)

優(yōu)惠價(jià)格(元)

 

 

SGW X-4A

熔點(diǎn)測量范圍:室溫至320℃

測量重復(fù)性:

±1℃ (在<200℃ 時(shí)),±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時(shí))

溫度顯示最小值:0.1℃

熔點(diǎn)觀察方式 :單目顯微鏡

光學(xué)放大倍數(shù) :40×

 

 

4800

 

 

3840

 

 

SGW X-4

熔點(diǎn)測量范圍:室溫至320℃

測量重復(fù)性:

±1℃ (在<200℃ 時(shí)), 

±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時(shí))

溫度顯示最小值: 1℃

熔點(diǎn)觀察方式: 單目顯微鏡

光學(xué)放大倍數(shù) :40×

 

 

3800

 

 

3040

 

 

SGW X-4B

熔點(diǎn)測量范圍:室溫至320℃ 

測量重復(fù)性:

±1℃ (在<200℃ 時(shí))

±2℃(在20 .0℃ 一320℃ 時(shí)) 

溫度顯示最小值:0.1℃

熔點(diǎn)觀察方式: 雙目顯微鏡 

光學(xué)放大倍數(shù): 40-100X

 

 

5800

 

 

4640




 
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